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LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據(jù)客戶要求，搭配相應(yīng)的光學(xué)測試系統(tǒng)，測試相應(yīng)的光學(xué)性能。
（典型二極管I-V特性曲線） （LED光電測試系統(tǒng)示意圖）
Vf正向?qū)妷簻y試
正向?qū)妷?，?/font>LED在正常工作電流下測量的電壓值。當(dāng)加載在LED兩端的工作電壓，低于導(dǎo)通電壓時(shí)，通過LED的電流極小，不發(fā)光。當(dāng)電壓超過該值后，通過LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負(fù)極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時(shí)測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實(shí)際測試需要，對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到相應(yīng)的Vf值。
Vr 反向擊穿電壓測試
反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的最大反向電壓。當(dāng)二極管兩端的反向電壓超過Vr后，反向電流會(huì)急劇增大，二極管將失去單方向?qū)щ娞匦裕@種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時(shí)間工作電壓超過Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負(fù)極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時(shí)測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實(shí)際測試需要，對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時(shí)，無需將接線端反接。源表內(nèi)部會(huì)自動(dòng)根據(jù)設(shè)定值，切換輸出端的極性。
Ir漏電流測試
漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時(shí)，流過二極管的微弱反向電流。此時(shí)，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負(fù)極接在高電位端，而后根據(jù)實(shí)際測試需要，設(shè)定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。
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繪制LED I-V特性曲線測試
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連接
如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與S型源表進(jìn)行連接
（源表測試連接示意圖）
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測試步驟
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步驟 |
操作方法 |
操作界面 |
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選擇掃描模式 |
【主界面】—>【掃描模式】 |
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設(shè)置掃描參數(shù) |
根據(jù)實(shí)際測試需要，選擇并設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)。比如：【掃描類型】，【限值】，【掃描模式】，【掃描點(diǎn)】等 |
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啟動(dòng)測試 |
點(diǎn)擊【開始掃描】，即可啟動(dòng)測試 |
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測試數(shù)據(jù) |
待測試完畢后，會(huì)自動(dòng)根據(jù)測試結(jié)果繪制I-V曲線，并顯示在屏幕上。此外，如果選擇保存【開始掃描】，也可在插入U(xiǎn)盤后，導(dǎo)出測試數(shù)據(jù) |
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S型源表簡介
普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品最大輸出電壓達(dá)300V，最小測試電流達(dá)100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件I-V電特性測試，如半導(dǎo)體IC，功率半導(dǎo)體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點(diǎn)：
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采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便
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內(nèi)置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
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四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作
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支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測試報(bào)告
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兼容多種上位機(jī)通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
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可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機(jī)軟件使用，快速實(shí)現(xiàn)不同器件的測試